實(shí)驗(yàn)室與半導(dǎo)體制造量測(cè)設(shè)備
不斷引進(jìn)和應(yīng)用最新的技術(shù)和產(chǎn)品，為客戶提供樣品代檢測(cè)、儀器銷(xiāo)售、國(guó)產(chǎn)定制化、應(yīng)用支持等綜合解決方案
About Us
關(guān)于我們
小龍儀器科技（深圳）有限公司是一家專門(mén)從事材料分析和理化分析等相關(guān)產(chǎn)品銷(xiāo)售及技術(shù)服務(wù)的專業(yè)化公司，產(chǎn)品包括：原子力顯微鏡、高分辨率3D顯微鏡、臺(tái)階儀、納米壓痕儀、電子顯微鏡原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)；X-射線熒光光譜儀、X-射線衍射儀、紅外光譜儀、原子吸收光譜儀、X射線光電子能譜儀（XPS）及俄歇電子能譜、X-射線微區(qū)分析系統(tǒng)、SEM、TEM 、STM、EDS能譜及EBSD等電鏡配套設(shè)備以及材料研究所所需的理化分析儀器。
Product Center
產(chǎn)品中心
力學(xué)測(cè)試及表面分析
元素成分分析
分子振動(dòng)光譜
半導(dǎo)體設(shè)備
Bruker布魯克原子力顯微鏡Dimension Nexus
Bruker布魯克摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)UMT
Bruker布魯克Hysitron TI Premier納米壓痕儀
Bruker布魯克NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)
Bruker布魯克ContourSP三維光學(xué)輪廓儀
Bruker布魯克ContourX-1000 三維光學(xué)輪廓儀
Bruker布魯克ContourX-500 三維光學(xué)輪廓儀
Bruker布魯克ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀
Bruker布魯克 Dektak XTL 臺(tái)階儀
Bruker布魯克原子力顯微鏡MultiMode 8
Bruker布魯克原子力顯微鏡Dimension FastScan
Bruker布魯克原子力顯微鏡Dimension ICON
德國(guó)徠卡金相顯微鏡DM2700M
Bruker布魯克化學(xué)機(jī)械拋光試驗(yàn)機(jī)CMP
Bruker布魯克Hysitron TI980 納米壓痕儀
Bruker布魯克ContourX-100三維光學(xué)輪廓儀
Bruker布魯克Dektak Pro 臺(tái)階儀
Bruker布魯克G4 ICARUS Series 2
Bruker布魯克G4 PHOENIX DH
Bruker布魯克G6 LEONARDO
Bruker布魯克G8 GALILEO
Ascend NMR 磁體
俄歇電子能譜儀Auger
X射線光電子能譜儀XPS/HAXPES
Bruker布魯克XFlash? Detector 6T|60 WL能譜儀
高性能波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀S8 TIGER series 2
Bruker布魯克D8 DISCOVER X射線衍射儀
Bruker布魯克D8 ADVANCE X射線衍射儀
布魯克RAMAN touch拉曼光譜儀
PHI動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀ADEPT-1010
PHI nanoTOF 3 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
AutoFlex@Max基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
MALDI-TOF/TOF基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
紫外光度計(jì)UH4150
MultiRAM傅立葉紅外拉曼光譜儀
Bruker布魯克Anasys nanoIR3 納米紅外光譜儀
Bruker布魯克INVENIO傅立葉紅外光譜儀
Bruker布魯克VERTEX 80v傅立葉紅外光譜儀
芯片外觀缺陷檢測(cè)機(jī)
芯片老化測(cè)試機(jī)
Bruker布魯克膜厚儀
Industry Applications
行業(yè)應(yīng)用
Partner
合作客戶
正是您們的需求，激發(fā)著我們不斷創(chuàng)新和努力！作為您的合作伙伴，我們珍視您的信任，全力以赴為您提供優(yōu)質(zhì)解決方案
News
新聞資訊
